저렴하고 실용적인 석면 식별법: 주사전자현미경 활용 연구 결과 발표

Seoul국립표준기술연구소(NIST)의 연구진은 주사전자현미경(SEM)을 이용해 석면을 감지하는 새로운 방법을 발견했습니다. 이 방법은 실용적이고 비용 효율적인 대안이 될 수 있습니다. 이전에는 투과전자현미경(TEM)이 표준 기법이었으나, 이는 비용이 많이 들고, 전문화된 실험실과 훈련된 인력이 필요합니다.

다음 방법들에 대한 중요한 사항은 다음과 같습니다:

• 투과전자현미경(TEM) - 정밀도가 높지만 비용이 많이 듭니다.
• 위상차현미경 - 사용이 간편하고 저렴하지만 정확도가 떨어집니다.
• 주사전자현미경(SEM) - 비용이 덜 들고 이용이 편리하며, TEM과 비슷한 정확성을 제공합니다.

연구자들은 주사 전자 현미경(SEM)으로 얻은 결과가 투과 전자 현미경(TEM)과 유사하다는 사실을 발견했습니다. 제이슨 홀름과 엘리사베스 맨스필드는 그들의 연구 결과를 'Analytical Methods' 저널에 발표했습니다. 석면 검사는 매년 미국에 약 30억 달러의 비용이 듭니다. 새로운 SEM 방법은 시간과 비용을 절감할 수 있습니다.

TEM은 세부 사항을 더 잘 보여주며 가까이 있는 작은 물체도 볼 수 있습니다. 이 방식은 전자를 샘플을 통해 통과시켜 내부의 상세한 이미지를 제공합니다. 반면에 SEM은 샘플 표면에서 전자를 반사시킵니다. 과거의 SEM 모델은 성능이 떨어졌지만, 현대의 SEM은 훨씬 개선된 이미지를 제공합니다.

최근 전자현미경(SEM) 기술의 발전으로 인해 SEM의 접근성이 높아졌습니다. 이제는 현장에서 사용 가능한 소형 탁상형 SEM도 있습니다. 반면에 투과 전자현미경(TEM)은 여전히 통제된 실험실 환경이 필요합니다. SEM 사용법은 몇 달이면 배울 수 있지만, TEM은 능숙해지기까지 수년이 걸릴 수 있습니다.

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석면은 한때 단열재와 방화재로 사용되었으나 암과 같은 심각한 건강 문제를 일으킵니다. 1970년대부터 사용이 줄어들기 시작했습니다. 올해 3월, EPA는 여전히 사용 중인 마지막 종류의 석면을 금지했습니다.

홀름과 맨스필드는 SEM 현미경을 사용하여 NIST SRM 1866이라는 샘플을 시험했습니다. 이 샘플은 석면 섬유에 대한 많은 정보를 담고 있습니다. 그들의 결과는 SRM에 대한 기존 정보와 매우 유사했습니다.

SEM의 장점은 다음과 같습니다:

• 장비 비용 절감
• 운영자 교육 요구 사항 완화
• 샘플 처리량 증가
• TEM에 비해 더 넓은 시야

Holm은 TEM이 SEM보다 몇 가지 기능이 더 있지만 SEM만으로도 그들의 필요를 충족시킬 수 있다고 언급했습니다. 이 새로운 기법은 석면 검출을 획기적으로 변화시키고 비용을 절감할 수 있습니다.

SEM은 석면을 찾는 데 유용한 방법으로 자리 잡고 있습니다. 다른 방법들만큼 정확하지만 비용이 적게 들고 사용이 용이합니다. 따라서 석면을 더욱 빠르고 저렴하게 제거할 수 있습니다.