SEM 이용하여 석면 검출 혁신: TEM보다 저렴하고 간편하며 비용 절감 가능

Seoul연구자들은 석면을 찾기 위한 새로운, 저렴하고 쉬운 방법을 발견했습니다. 보통 사용되는 방법인 투과전자현미경(TEM)은 정확하지만 비용이 많이 들고 특수한 실험실이 필요합니다. 다른 방법인 위상차 현미경은 비용이 적게 들지만 정확도가 떨어집니다. 이제 주사전자현미경(SEM)이 좋은 결과를 보여주어 기대되고 있습니다.

국립표준기술연구소(NIST)의 연구원들이 주사전자현미경(SEM)을 이용해 석면을 시험한 결과, 효과적이라는 사실을 밝혀냈다. 이들은 연구 결과를 '분석 방법(Analytical Methods)' 저널에 발표했다. 연구원인 제이슨 홀름과 엘리자베스 맨스필드는 주사전자현미경이 석면을 식별하는데 있어 투과전자현미경(TEM)의 좋은 대안이 될 수 있다고 믿고 있다.

다음은 몇 가지 핵심 사항입니다:

SEM 기계는 비용이 덜 들며, 소형 모델과 함께 현장에서 사용할 수 있습니다. TEM보다 교육 시간이 적게 필요합니다. 최근 업그레이드를 통해 SEM의 결과는 TEM에 가까워졌습니다. 또한, SEM은 더 많은 샘플을 빠르게 처리할 수 있습니다.

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석면은 단열 및 방화재로 건축 자재에 사용되었던 광물입니다. 1970년대에 건강 문제, 특히 암을 유발한다는 이유로 사용이 급격히 줄어들었습니다. 3월에 EPA는 여전히 사용되고 있는 '마지막 종류의 석면'을 전면 금지했습니다.

TEM과 SEM은 전자 현미경의 유형입니다. 두 방법 모두 작은 샘플에 전자 빔을 사용하여 정밀한 이미지를 얻습니다. TEM은 전자를 샘플을 통과시켜 세밀한 내부 구조를 보여줍니다. SEM은 표면에서 전자를 반사시켜 덜 정밀하지만 유용한 이미지를 제공합니다. TEM은 해상도가 더 뛰어나지만 더 복잡하고 비용이 많이 듭니다.

홀름과 맨스필드는 SEM의 신뢰성을 확인하기 위해 NIST 표준 참조 물질 1866을 사용했습니다. 이는 실험실이 장비와 방법을 테스트하는 데 도움을 줍니다. 그들이 얻은 SEM 결과는 SRM 1866의 알려진 특성과 일치했으며, 이는 SEM이 정확하다는 것을 입증했습니다.

미국에서 석면 제거 작업은 매년 약 30억 달러의 비용이 들며, SEM과 같은 빠르고 저렴한 방법을 사용하면 더 효율적이고 비용을 절감할 수 있습니다.