Técnica revolucionaria mapea 'puntos calientes' a nanoescala en electrónica para aumentar su durabilidad

Tiempo de lectura: 2 minutos
Por Jamie Olivos
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'Puntos calientes a nanoescala en la electrónica destacados con imágenes térmicas.'

MadridCientíficos de la Universidad de Rochester han desarrollado una nueva técnica para resolver los problemas de sobrecalentamiento en dispositivos como laptops y smartphones. Estos aparatos se calientan demasiado debido a pequeños problemas de transferencia de calor. El nuevo método permite identificar y mapear estas zonas calientes con mayor precisión.

Los métodos actuales de termometría óptica enfrentan dificultades con la alta resolución espacial. Pickel, junto a sus estudiantes de doctorado Ziyang Ye y Benjamin Harrington, resolvieron este problema mediante un nuevo enfoque. Adaptaron la microscopía de fluorescencia de super-resolución, originalmente utilizada para el estudio de muestras biológicas, para medir la transferencia de calor en la electrónica.

Este estudio emplea nuevas estrategias para recopilar y analizar datos.

  • Investigadores usaron nanopartículas luminiscentes para mapear la temperatura.
  • Su técnica logra una resolución ultra alta desde una distancia de hasta 10 milímetros.
  • Este alcance es significativo en microscopía de superresolución, que generalmente opera a menos de un milímetro.
  • El proceso involucró la aplicación de nanopartículas con alta dopaje en la superficie del dispositivo.

Los investigadores demostraron su técnica utilizando un dispositivo que generaba rápidos cambios de temperatura. Este método puede aplicarse a diferentes componentes electrónicos para hacer que duren más tiempo.

En su esfuerzo por perfeccionar la técnica, el equipo de investigación se propone:

  • Reducir la potencia láser utilizada en el proceso.
  • Mejorar los métodos para aplicar nanopartículas a los dispositivos.

Este avance podría ayudar de manera significativa a los fabricantes a identificar pequeñas zonas que se recalientan, evitando daños y prolongando la vida útil de las piezas electrónicas. Como resultado, la fiabilidad y durabilidad de los dispositivos electrónicos para los consumidores podría aumentar considerablemente.

Un hecho notable es que una técnica proveniente de un campo (imágenes biológicas) se adaptó exitosamente para otro campo (electrónica). Aunque los materiales y aplicaciones sean distintos, las ideas fundamentales funcionaron muy bien. Dada las limitaciones de los métodos anteriores, este nuevo enfoque representa una gran mejora.

La investigación fue financiada por la Fundación Nacional de Ciencias y un Premio Furth de la Universidad de Rochester. Estos fondos son cruciales para posibilitar importantes descubrimientos interdisciplinarios.

A medida que esta técnica avance, podría revolucionar la forma en que los fabricantes de dispositivos electrónicos gestionan los problemas de calor, resultando en aparatos que funcionen mejor y duren más.

El estudio se publica aquí:

http://dx.doi.org/10.1126/sciadv.ado6268

y su cita oficial - incluidos autores y revista - es

Ziyang Ye, Benjamin Harrington, Andrea D. Pickel. Optical super-resolution nanothermometry via stimulated emission depletion imaging of upconverting nanoparticles. Science Advances, 2024; 10 (29) DOI: 10.1126/sciadv.ado6268
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