Nouvelle technique révolutionnaire pour cartographier les 'points chauds' à l'échelle nanométrique dans l'électronique et améliorer la longévité

Temps de lecture: 2 minutes
Par Jean Rivière
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Les points chauds à l'échelle nanométrique dans l'électronique mis en évidence par imagerie thermique.

ParisDes chercheurs de l'Université de Rochester ont mis au point une nouvelle méthode pour résoudre les problèmes de surchauffe dans les appareils tels que les ordinateurs portables et les smartphones. Ces appareils se réchauffent trop en raison de petits problèmes de transfert de chaleur. La nouvelle méthode permet de détecter et de cartographier ces zones chaudes avec une précision accrue.

Les méthodes actuelles de thermométrie optique peinent à offrir une haute résolution spatiale. Pickel, avec ses doctorants Ziyang Ye et Benjamin Harrington, a résolu ce problème en utilisant une nouvelle approche. Ils ont adapté la microscopie de fluorescence à super-résolution, initialement employée pour l'étude des échantillons biologiques, afin de mesurer le transfert de chaleur dans les dispositifs électroniques.

Cette étude utilise des méthodes innovantes pour collecter et analyser des données.

  • Des chercheurs ont utilisé des nanoparticules luminescentes pour cartographier la température.
  • Leur technique atteint une super-haute résolution à une distance allant jusqu'à 10 millimètres.
  • Cette distance est notable dans la microscopie super-résolution, qui opère souvent à moins d'un millimètre.
  • Le processus impliquait l'application de nanoparticules à conversion ascendante hautement dopées sur la surface de l'appareil.

Les chercheurs ont démontré leur méthode à l'aide d'un dispositif induisant des variations rapides de température. Cette technique peut être appliquée à divers composants électroniques pour prolonger leur durée de vie.

Dans le but de perfectionner la technique, l'équipe de recherche cherche à :

  • Réduire la puissance laser utilisée dans le procédé.
  • Améliorer les méthodes d'application des nanoparticules sur les dispositifs.

Cette avancée pourrait grandement aider les fabricants à détecter les zones infimes de surchauffe, évitant ainsi des dommages et prolongeant la durée de vie des composants électroniques. En conséquence, les produits électroniques grand public pourraient devenir plus fiables et durables.

Un point essentiel est que cette technique issue de l'imagerie biologique a été brillamment adaptée à l'électronique. Malgré la différence des matériaux et des applications, les principes de base ont été efficaces. Étant donné les limitations des méthodes précédentes, cette nouvelle approche constitue une amélioration significative.

La recherche a été financée par la Fondation Nationale pour la Science et par une bourse Furth de l'Université de Rochester. Ces fonds sont essentiels pour permettre des découvertes interdisciplinaires aussi importantes.

Avec l'amélioration de cette technique, les fabricants d'appareils électroniques pourraient résoudre les problèmes de surchauffe, ce qui permettrait de produire des dispositifs plus performants et plus durables.

L'étude est publiée ici:

http://dx.doi.org/10.1126/sciadv.ado6268

et sa citation officielle - y compris les auteurs et la revue - est

Ziyang Ye, Benjamin Harrington, Andrea D. Pickel. Optical super-resolution nanothermometry via stimulated emission depletion imaging of upconverting nanoparticles. Science Advances, 2024; 10 (29) DOI: 10.1126/sciadv.ado6268
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