저렴하고 편리한 석면 탐지 혁신: 새로운 과학적 연구 결과 밝혀져

Seoul국립표준기술연구소(NIST)의 과학자들은 석면을 검출하는 더 저렴하고 쉬운 방법을 발견했습니다. 전통적으로 사용되던 투과전자현미경(TEM) 방식은 일반적이지만 비용이 많이 들고 특수 실험실과 훈련된 전문가가 필요합니다. 반면에 위상차 현미경 방법은 비용이 적게 들지만 정확성이 떨어집니다.

주사 전자 현미경(SEM)은 현재 훌륭한 선택지입니다. NIST 연구원인 제이슨 홈과 엘리자베스 맨스필드는 SEM이 TEM과 유사한 결과를 얻을 수 있다고 말합니다. SEM은 석면 정화 작업에 적합하며 여러 가지 장점을 가지고 있습니다.

• 장비 비용 절감
• 더 적은 교육 요건으로 운용 가능
• 샘플 처리 속도 향상
• TEM보다 넓은 시야

석면은 자연에서 발견되는 광물로, 건축 자재에서 단열재, 방수 처리, 화재 안전을 위해 사용되었습니다. 1970년대에 건강 문제, 특히 암을 유발한다는 사실이 밝혀지면서 사용이 감소했습니다. 최근, EPA는 여전히 사용되고 있는 마지막 종류의 석면을 금지했습니다.

TEM과 SEM은 모두 전자 현미경의 종류입니다. TEM에서는 전자 빔이 샘플을 통과합니다. 반면 SEM에서는 전자가 표면에서 반사됩니다. 일반적으로 TEM은 더 정밀한 이미지와 뛰어난 해상도를 제공합니다. 그러나 SEM도 많은 발전을 이루어져, 현대의 SEM은 향상된 이미징과 다양한 첨단 기능을 제공합니다.

홀름과 맨스필드는 검증된 샘플인 NIST 표준 참조 물질 1866을 사용하여 석면을 테스트했습니다. 이 샘플은 장비와 방법의 정확성을 검증하는 데 도움을 줍니다. 그들의 주사 전자 현미경(SEM) 결과는 샘플의 문서화된 데이터와 매우 근접하여, 그들의 방법이 정확하다는 것을 입증했습니다.

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SEM은 현장 사용이 더 용이합니다. 몇몇 회사에서는 현장에서 사용할 수 있는 소형 SEM도 제작하고 있습니다. 반면, TEM은 여전히 실험실에서 수행해야 합니다.

이번 발견은 석면 정화 작업을 더 빠르고 저렴하게 만들 수 있습니다. 현재 미국에서만 정화 작업에는 매년 약 30억 달러가 소요됩니다.

SEM의 새로운 기능은 석면 제거 작업을 크게 개선할 수 있습니다. 사용이 간편하고 접근성이 높은 기술 덕분에 비용이 절감되고 작업 속도가 빨라질 것입니다. 이는 석면이 존재하는 건설 현장과 학교 등의 장소에서 매우 중요할 수 있습니다.

SEM을 활용하면 조직은 시간과 비용을 절약하면서도 정확한 탐지 기준을 유지할 수 있습니다. 이 방법은 비용이 적게 들고 시행하기에도 더 간단합니다. 전문적인 훈련과 장비가 덜 필요하여 과정이 더욱 효율적입니다.

이 새로운 석면 탐지 방법은 사용하기 쉬우면서도 여전히 정확합니다. 이는 최신 공중 보건 및 안전 솔루션에 대한 증가하는 수요를 충족시킵니다.